Vendre
hamelyn-logo

Ajuda

cupon
Emporta't tres i paga només dos amb el cupó TRIPLE
cupon
IAM Investigació, Nº 20. Caracterització Textural I Cristal·loquímica De Materials D Interés Tecnològic Mitjançant La Difracció De Raigs X

IAM Investigació, Nº 20. Caracterització Textural I Cristal·loquímica De Materials D Interés Tecnològic Mitjançant La Difracció De Raigs X

CiènciesTecnologia
imageEnviament GRATIS
imageDevolució 30 dies
Només queda una unitat, afanya't!
Estat

Pagament segur

googlepayapplepayvisamastercardpaypalaexpress

Detalls del llibreTapa tova

Editorial

Institucion Alfonso el Magnanimo (Valenc

Pàgines

104

Idioma

ca, es

Autor: Jose Maria Amigó Descarga

Descripció

Este libro, titulado 'IAM Investigació, Nº 20. Caracterització Textural I Cristal·loquímica De Materials D Interés Tecnològic Mitjançant La Difracció De Raigs X', es una introducción a la difracción de rayos X por el método de polvo, el método de Rietveld y el análisis microestructural de caolinitas por DRX. Publicado en 1996 por Alfons el Magnànim, Valencia, este volumen de 104 páginas ofrece una exploración detallada de la caracterización textural y cristaloquímica de materiales de interés tecnológico.

recommender-banner
JulIA, la teva bibliotecària virtualEt recomana la teva propera gran lectura

Productes similars